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XQ6J-GⅢ型球面干涉儀主要用于精密光學(xué)平面和球面的面型測量，球面曲率半徑測量，光學(xué)系統(tǒng)波前測量,光學(xué)材料均勻性測量,干涉圖像既能目視觀察也能通過監(jiān)視器展現(xiàn)，方便觀測。是光學(xué)元件加工廠、光學(xué)儀器生產(chǎn)廠、大專院校、職工培訓(xùn)機(jī)構(gòu)以及計(jì)量單位必備的光學(xué)檢測儀器及教學(xué)設(shè)備。 |
| 特點(diǎn)： |
功能齊全、操作簡便,、經(jīng)濟(jì)實(shí)用。球面零件曲率半徑R值和面形精度實(shí)現(xiàn)了同機(jī)測量，為使用者省去了制作標(biāo)準(zhǔn)樣板的煩腦更降低了生產(chǎn)成本。 |
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